Domestic Forschung über die automatische Erkennung System Leiterplatte begann um mittleren Periode der 1990er Jahre noch in den Kinderschuhen. In der Forschung in diesem Bereich ist relativ weniger Forschungsinstitute, sondern auch, weil der Einfluss verschiedener Faktoren, die Forschung für die Leiterplattendefekt AOI-System auch in einem relativ frühen Ebene stecken. Da die automatische Erkennung System übersee Leiterplatte ist zu teuer, aber es gibt keinen Industrieland im wahrsten Sinne des Leiterplatte automatische Testsysteme, so die überwiegende Mehrheit der heimischen Leiterplattenhersteller oder künstliche mit einer Lupe oder einem Projektor zu sehen Die Ann?herung an das Thema Seite. Aufgrund der gro?en arbeitsintensive manuelle Inspektion, Ermüdung der Augen, hohe Leckratenprüfung. Verfahren und mit den elektronischen Produkten zur Miniaturisierung der digitalen Entwicklung, Leiterplatten auch bewegte hochdichte, hochpr?zise Entwicklung mit manuelle Inspektion der Grund unm?glich. Für h?here Dichte und Pr?zision Leiterplatte (0,12 ~ 0,10 mm) haben v?llig unf?hig, zu prüfen gewesen. Erfassungseinrichtung nach hinten, führte zu der aktuellen inl?ndischen Mehrschicht (8-12 Lagen) des Produkts Weitergabe von 50 bis 60%.